top of page

ICカードとR/Wテストツールの理想形

Square

Contactless Test Station III

Contactless Test Station III (CTS III)は、13.56MHzを使用するNFC技術を使用したカードやリーダーライターの開発には欠かせないテストツールです。ISO/IEC 14443はもとより、FeliCa、MifareおよびISO/IEC 15693にも対応しています。

各プロトコルのレベル1（アナログとデジタルプロトコル）の検証をこの1台で行えるほか、専用テストスイートやテストアンテナと共に使用することでEMVCoやNFC Forumなどの各標準に対する準拠試験も容易に行うことができます。

Fime logo
CTS3
CTS III の活躍シーン

  • NFC技術を組み込んだ製品の検証・実証実験

CTS III でカード側をエミュレートすることでR/Wの、R/W側をシミュレートすることでカードの検証が行えます。アナログやデジタルプロトコルのパラメータを柔軟に設定することがでるので、ネガティブテストや限界試験を行うこともできます。

Test Bench

  • ​NFC製品の認証試験の事前確認（EMVCoやNFC Forum)

EMVCoやNFC Forumの認証試験は各々の団体から認定されたFime等のラボで行う必要があります。認定ラボで本番試験を受ける前に準拠テストツールを使用して製品に完成度を高めておくことは、認定ラボでの繰り返し受験を防ぎ結果として時間とコストの節約になります。必要なソフトウェア（テストスイート）やテストアンテナをセットした以下のテストベンチが用意されています。

  • EMVCo L1 PICC Test Suite

  • EMVCo L1 PCD Test Suite

  • NFC Forum Analog (*1)

  • NFC Forum Digital (*1)

  • NFC Forum LLCP/SNEP

  • NFC Forum Tag Application

  • NFC Forum Tag Performance

​​

(*1) CCC Digital Key Reader/CE DeviceのAnalog, Digitalを含む

Test Bench w/roboit
​主な特徴

  • ハイパフォーマンスなNFC ICカードとリーダーのシミュレーション

  • ISO/IEC 14443 A/B, ISO/IEC 15693, Mifare, FeliCaの各プロトコルに対応

  • EMVCo Level 1とNFC Forumの自動テストライブラリに対応

  • アナログテストパラメータの正確な定義

  • プロトコルアナライザー機能を搭載

  • ハイパフォーマンスなDAQボードが利用可能

  • 共振周波数、Q値、S11パラメータの測定が可能

  • ユーザーフレンドリーなGUI "MP Manager"が添付

  • 豊富なAPIでユーザーのテストシーケンサーと統合が可能

  • 小型、軽量

  • ​前世代のCTS2と比較して最大80%の高速化

CTS III 紹介ビデオ(1分50秒)
技術データ

  • 対応プロトコル

ISO/IEC 14443-3 (proximity cards) (Type A/B)

​対応データレート：106, 212, 424, 828 kbps, 1.6, 3.2, 6.4 Mbps

​非対称データレートにも対応

ISO/IEC 15693

対応データレート：ハイ＆ロー データレート（1 out of 4及び1 out of 256）

Mifare

FeliCa

NFC Forum modes: Peer2Peer, Listening, Polling

NFC Forum tags (Tag types 1,2,3,4)

ISO 18092 (NFC-IP1)

​対応モード

アクティブ/パッシブモード、イニシエーター/ターゲット

Rawモード

カスタムプロトコルの実装が可能

  • 信号生成

RF出力

Tx/Rxチャネル：30 Vpp @ 50オーム

RF Outチャネル：18Vpp @ 50 オーム

ロードモジュレーション振幅生成

LMAスクェア：DC 0 - 8V

LMAサイナス：AC 4Vpp 

​分解能

16 bits 

IQロードモジュレーションPICC信号生成

  • ​テスト機能

データアクイジッションボード

  • 2チャンネル

  • サンプリング150 MS/s

  • 分解能 16 bits

  • バンド幅 50 MHz

  • ​メモリ：1 GB

​パラメータ試験

  • 共振周波数 / Q値 / S11: 5 MHz - 30 MHz, @ -20dBm - + 20 dBm

  • ​コンプレックスインピーダンス測定

  • 標準測定（負荷変調、電磁界強度、RF波形解析など）

  • ​多くのカスタマイズ信号の生成が可能

論理試験

  • アンチティアリング

  • 正確なタイミング定義

  • CRC、パリティエラー、誤ったバイト列

  • 外形寸法等

外形寸法：H102 x W204 x L306 mm

重量：3.8 Kg

PCとの接続：USB2.0またはイーサネット　（GbE)

bottom of page